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JPSPEC佳譜儀器鍍層測厚儀在半導(dǎo)體封裝線路板的應(yīng)用

發(fā)布時(shí)間:2024/12/06 09:48:18 發(fā)布廠商:佳譜儀器(蘇州)有限公司 >> 進(jìn)入該公司展臺(tái)

PCB(Printed Circuit Board),亦稱為印刷線路板,是電子設(shè)備中不可或缺的關(guān)鍵組件。它不僅支撐著電子元件,還是實(shí)現(xiàn)元件間電氣連接的媒介。JPSPEC佳譜儀器鍍層測厚儀在半導(dǎo)體封裝線路板的應(yīng)用

隨著電子行業(yè)對(duì)更薄涂層的需求日益增長,為了控制成本并確保產(chǎn)品提供可靠的性能參數(shù),對(duì)測量技術(shù)的要求也隨之大幅提升。以化學(xué)鍍鎳鈀金(ENEPIG)工藝為例,與傳統(tǒng)的化鍍金鎳工藝相比,ENEPIG工藝有效避免了鎳遷移導(dǎo)致的黑PAD點(diǎn)問題。此外,通過使用極薄的金和鈀鍍層(金的厚度通常在0.003-0.01微米,鈀的厚度在0.01-0.1微米),ENEPIG工藝能夠提供優(yōu)異的焊接性能,并且與錫銀銅合金具有高度的兼容性。因此,ENEPIG工藝在對(duì)密度和可靠性要求極高的航空航天、軍事和醫(yī)療等行業(yè)中得到了廣泛應(yīng)用。JPSPEC佳譜儀器鍍層測厚儀在半導(dǎo)體封裝線路板的應(yīng)用

由于ENEPIG鍍層中金和鈀的鍍層厚度極薄,加之當(dāng)前封裝技術(shù)對(duì)精度的要求不斷提高,鍍層的點(diǎn)位面積也變得越來越小。傳統(tǒng)的厚度測試方法已無法滿足穩(wěn)定性和小區(qū)域測試的需求。JPSPEC佳譜儀器鍍層測厚儀在半導(dǎo)體封裝線路板的應(yīng)用

佳譜儀器T450鍍層測厚儀的微聚焦增強(qiáng)型射線管能夠提供更集中的X射線束,從而提高檢測的分辨率和靈敏度。數(shù)字多道脈沖信號(hào)處理技術(shù)的應(yīng)用,確保了信號(hào)的快速采集和準(zhǔn)確分析,減少了噪聲干擾,提升了測量結(jié)果的可靠性。增強(qiáng)FP算法軟件的引入,進(jìn)一步優(yōu)化了元素分析的準(zhǔn)確性,使得在復(fù)雜樣品的分析中也能得到的膜厚數(shù)據(jù)。JPSPEC佳譜儀器鍍層測厚儀在半導(dǎo)體封裝線路板的應(yīng)用

變焦裝置的使用,使得T450鍍層測厚儀在不同尺寸和形狀的樣品上都能實(shí)現(xiàn)*的聚焦效果,確保了測量的一致性和重復(fù)性。此外,T450鍍層測厚儀還具備用戶友好的操作界面和數(shù)據(jù)處理軟件,使得操作更加簡便,數(shù)據(jù)分析更加直觀,極大地提高了工作效率。

鍍層工藝
半導(dǎo)體封裝線路板
鍍層膜厚儀
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