• 可與雙晶和單晶探頭兼容。
• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
• 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。
• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
• 對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。

• 多層軟件選項可對多達(dá)4個不同層同時進(jìn)行測量。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 厚度、聲速和渡越時間測量。
• 差分模式和縮減率模式。
• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
• 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
• 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

• 袖珍型，僅重0.814公斤。
• 堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
• 爆炸性氣氛：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試，可在防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作。
• 防撞擊測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
• 防振動測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
• 寬泛的工作溫度范圍。
• 帶有支架的橡膠保護(hù)套。
• 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有的清晰度。

• 可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。
• 可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。
• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
• USB和RS-232通訊端口。
• 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
• 可連接計算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
• 默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
• 默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
• 密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

38DL PLUS測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。

• 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
• 32位字符的文件名稱。
• 20位字符的ID# (TML#)編碼。
• 9個文件格式：增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。
• 每個ID# (TML)編碼可多存儲4個注釋。
• 注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。
• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
• 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。
• 標(biāo)準(zhǔn)USB和RS-232通信。
• 單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。
• 機(jī)載統(tǒng)計報告。
• 機(jī)載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
• GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲卡上寫入信息。
• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲卡。

• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)。
• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量結(jié)。
• 編輯所存數(shù)據(jù)。
• 顯示數(shù)據(jù)集和測量結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值。
• 從測厚儀上下載厚度測量結(jié)，或上傳厚度測量結(jié)至測厚儀。
• 將測量結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。
• 收集捕獲的屏幕。
• 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告。
• 升級操作軟件。
• 下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。
• B掃描回顧

38DL PLUS數(shù)字式超聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。 
標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭套裝盒

• 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
• GageView接口程序
• 試塊和耦合劑
• USB線纜
• 橡膠保護(hù)套，帶有支架和頸掛帶
• 用戶手冊
• 兩年有限擔(dān)保

測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、小值/大值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調(diào)用應(yīng)用、溫度補(bǔ)償、平均值/小值模式

對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測量

38DL PLUS測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。

穿透涂層技術(shù)

使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

溫度補(bǔ)償

材料中的溫度差異會影響材料聲速和厚度測量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測量時的實際（高）溫度值。38DL PLUS自動顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。

氧化層/沉積物測量（可選項）

38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測管件的壽命。建議在此項應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時，這條曲線也被同時保存和調(diào)用。

用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（小3個校準(zhǔn)點；大10個校準(zhǔn)點），儀器就會創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

自動探頭識別

所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其的厚度測量。

• 對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
• 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量值。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 多層軟件選項可對多達(dá)4個不同層的厚度同時進(jìn)行測量。
• 測量厚度、聲速或渡越時間。
• 帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量。

高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

多層軟件選項

這個軟件選項計算并同時顯示多達(dá)4個不同層的厚度測量值。

這個功能還可顯示所選各層的厚度。典型的應(yīng)用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測量。

測量雙晶探頭測量模式 穿透涂層測量模式 穿透漆層回波到回波測量模式 單晶探頭測量模式 厚度范圍 材料聲速范圍 分辨率（可選擇） 探頭頻率范圍一般規(guī)格工作溫度范圍 鍵區(qū) 機(jī)殼 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） 重量 電源 鋰離子電池供電時間 標(biāo)準(zhǔn)顯示彩色透反VGA顯示 檢波輸入/輸出USB RS-232 存儲卡 視頻輸出內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器數(shù)據(jù)記錄器 容量 文件名稱、ID編碼及注釋 文件結(jié)構(gòu) 報告

從激勵脈沖后的延時到個回波之間的時間間隔。

利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。

在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。

模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。  模式2：延遲線回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。  模式3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。  氧化層模式：可選。  多層模式：可選。

0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。

0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

低分辨率：0.1毫米  標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米  高分辨率（可選項）：0.001毫米

標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）  高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

-10°C～50°C

密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。

防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼；機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。

體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米

0.814公斤

AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。

工作時間：少12.6小時，一般14小時，多14.7小時。快速充電：2小時到3小時。

設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米

全波、RF波、正半波、負(fù)半波

1.0從接口。

有。

大容量：2 GB外置MicroSD存儲卡。

VGA輸出標(biāo)準(zhǔn)。

38DL PLUS通過標(biāo)準(zhǔn)RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。

475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形。

32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼，每個位有四個注釋。

9個標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)。

機(jī)載報告結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的小值/大值、小值回顧、文件比較及報警報告。

軟件選項

38DLP-OXIDE (U8147014)：使用編碼激活的內(nèi)部氧化層測量軟件。 
38DLP-HR (U8147015)：使用編碼激活的高分辨率測量軟件。 
38DLP-MM (U8147016)：使用編碼激活的多層測量軟件。 
38DLP-HP (U8147017)：使用編碼激活的高穿透（低頻）測量軟件。

選購附件

38DLP/EW (U8778348)：3年保修。 
1/2XA/E110 (U8767104)：用于E110-SB EMAT探頭的濾波器適配器。 
38-9F6 (U8840167)：RS-232線纜 
38-C-USB-IP67 (U8800998)：USB線纜，用于符合IP67標(biāo)準(zhǔn)的密封操作。 
38DLP/RFS (U8780288)：腳踏開關(guān)，廠內(nèi)安裝。 
HPV/C (U8780124)：數(shù)字式卡尺線纜，用于在測量聲速時進(jìn)行厚度輸入。 
38DLP-V-CC (U8840172)： 數(shù)字式卡尺線纜。  
EPLTC-C-VGA-6 (U8840035)：VGA輸出線纜。 
MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD存儲卡。