顯微分光膜厚儀 OPTM SERIES 產品特點： 非接觸、非破壞式，量測頭可自由集成在客戶系統(tǒng)內 初學者也能輕松解析建模的初學者解析模式 高精度、高再現性量測紫外到近紅外波段內的*反射率，可分析多層薄膜厚度、光學常數（n：折射率、k：消光系數） 單點對焦加量測在1秒內完成 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外 ~ 近紅外） 獨立測試頭對應各種inline定制化需求 *小對應spot約3μm *可針對薄膜解析nk 北崎國際貿易（北京）有限公司 優(yōu)勢銷售